一、概述
鍍層膜厚儀是一種用于測(cè)量工業(yè)制品表面涂層或鍍層的厚度的儀器，它可以通過(guò)反射或透射光線或電磁波來(lái)測(cè)量涂層或鍍層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、制造業(yè)、涂層和表面工藝領(lǐng)域。
二、工作原理
工作原理是利用不同類型的傳感器，利用電流、光線反射和透射等方法，獲得表面涂層厚度的信息。
三、分類
按照測(cè)量原理分類，可以分為以下幾類：
1.X射線膜厚儀
2.電磁渦流膜厚儀
3.光學(xué)膜厚儀
4.激光光譜膜厚儀
5.螺旋掃描膜厚儀
按照用途分類，可以分為以下幾類：
1.金屬表面涂層或鍍層測(cè)量?jī)x
2.金屬和非金屬表面涂層或鍍層測(cè)量?jī)x
3.軟膜和有機(jī)膜測(cè)量?jī)x
4.半導(dǎo)體或者電子元器件重要部位多層結(jié)構(gòu)膜厚測(cè)量?jī)x
按照測(cè)量范圍分類，可以分為以下幾類：
1.納米級(jí)膜厚測(cè)量?jī)x
2.微米級(jí)膜厚測(cè)量?jī)x
3.毫米級(jí)以上膜厚測(cè)量?jī)x
四、構(gòu)造
基本構(gòu)造包括：測(cè)量頭、傳感器、主機(jī)、控制電路和顯示器等組成。其構(gòu)造特點(diǎn)主要根據(jù)所采用的測(cè)量原理和應(yīng)用場(chǎng)景而決定。
1.測(cè)量頭：根據(jù)不同的測(cè)量精度和應(yīng)用場(chǎng)景而設(shè)計(jì)的。測(cè)量頭通常是由滑動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)、伸縮等手段組成，用于向被測(cè)物體的表面靠近。在具體的測(cè)量任務(wù)中，不同的測(cè)量頭可能會(huì)有不同的設(shè)計(jì)，并配有不同類型的探測(cè)器。
2.傳感器：其不同的設(shè)計(jì)原理直接影響了測(cè)量的精度和應(yīng)用場(chǎng)景。傳感器的設(shè)計(jì)通常包括探頭、光源、光束分離器、探測(cè)器、電路和處理器等。
3.主機(jī)：指與傳感器和測(cè)量頭連接的控制中心，包括供電和控制電路，以及顯示器和數(shù)據(jù)接口等。主機(jī)的設(shè)計(jì)應(yīng)保證可靠性和穩(wěn)定性，以及靈活的數(shù)據(jù)處理能力，從而滿足各種不同的應(yīng)用要求。
